PGT-SR
胚胎植入前染色體結構重排檢測MicroSeq®
提供成熟檢測方案，精準獲取斷點信息
- 項目介紹
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胚胎植入前平衡易位攜帶者檢測MicroSeq®，采用高通量測序技術和染色體顯微切割技術（ MicroSeq®技術），通過精確定位斷點及與其連鎖SNP位點，再通過斷點分析進行診斷，從而可以篩查完全正常和平衡易位攜帶者胚胎。
MicroSeq®技術獲得國家(jia)知識產權局發明專(zhuan)利授權（ 專(zhuan)利號(hao)201510527239.9）
- 產品優勢
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精準分析斷點遺傳信息
平衡易位斷點位置定位至單堿基水平，分析斷點所
在基因的遺傳學信息，進行精準的健康管理和生育
指導 
全面檢測所有配子類型
可對平衡易位的所有配子類型進行全面分析，檢測診斷率
達(da)到99%
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直接和間接法雙重保障
斷點直接鑒定和SNP單體型連鎖間接分析，雙重保
障(zhang)檢(jian)測準(zhun)確性 
臨床應用簡便經濟高效
無需先證者即可獲得明確診斷結果，且斷點信息可在下一
周期反復使(shi)用
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應用成熟穩定
目前經MicroSeq®出生的健康新生兒已超過1000
多名，首例不攜帶平衡易位的MicroSeq®健
康寶寶2016年5月于中信湘雅生殖與遺傳專科醫院
出生，臨床成果2016年發表于柳葉刀子刊《
EBioMedicine》雜志
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- 適用人群
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常規染色體(ti)核型分析(xi)為染色體(ti)結構重排(pai)的患(huan)者（相互易(yi)位、羅氏(shi)易(yi)位、倒位等類型）
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- 檢測流程
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樣本采集
家系樣本+胚胎樣本
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樣本檢測
顯(xian)微(wei)切割斷點(dian)分析+胚胎檢(jian)測(ce)
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出具報告
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遺傳咨詢
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30 weekdays
個工作日
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4006-909-103